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名稱：
硅片測厚儀ProformaTM...
- 詳細內容
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備注：
世界領先的精密測量解決方案 用于半導體以及硅片的測量系統 替代全自動硅片檢測設備的高性價比系統
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品牌：
MTI（美國）
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規格：
硅片測厚儀ProformaTM 300i
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名稱：
MTI MT3TGS測厚儀
- 詳細內容
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備注：
microtrak 3測厚儀系統結合的證明激光三角傳感器的模塊化控制器，可以操作無論是作為一個獨立的解決方案，或與PLC / PC microtrak?3 TGS控制器可以檢測出范圍厚度的條件下在0.
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品牌：
MTI(美國)
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規格：
MTI MT3TGS測厚儀
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名稱：
光譜共焦位移傳感器
- 詳細內容
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備注：
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品牌：
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規格：
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